Podkreślić:
System testowania zasilaczy komputerowych charakteryzuje się wysoką dokładnością, dużą prędkością testowania i jest automatycznym systemem testowania zasilaczy.
Otwarty
• Otwarta platforma sprzętowa, która pozwala na dodawanie lub usuwanie różnych urządzeń testujących zgodnie z potrzebami klienta (w tym urządzeń z interfejsami GPIB, RS-232, USB itp.)
• System testowania zasilaczy ATE obsługuje jednoczesne testowanie wielu zasilaczy o pojedynczym/wielu wyjściach, znacznie zwiększając wydajność linii produkcyjnej.
• Otwarta platforma oprogramowania, system testowania zasilaczy ATE może być rozszerzany o nowe pozycje testowe i funkcje w oparciu o wymagania testowe klienta.
• System testowania zasilaczy ATE obsługuje jednoczesne wstępne skanowanie i skanowanie kodów kreskowych podczas testowania, zwiększając ogólną prędkość testowania.
Uniwersalny
• System testowania zasilaczy ATE obsługuje testowanie różnych zasilaczy (zasilacze LED, adaptery/ładowarki, zasilacze PC, falowniki, zasilacze komunikacyjne itp.)
• Zgodny z wymaganiami pomiarowymi ENERGY STAR i IEC 62301.
• Obsługuje interfejs Manufacturing Information System (ShopFloor).
• System testowania zasilaczy ATE obsługuje testowanie różnych parametrów zasilania w trybach CV, CC, CR, LED.
• Optymalizuje tryb wyświetlania, umożliwiając dowolną kombinację konfiguracji sprzętowych.
Szybki
• System testowania zasilaczy ATE obsługuje jednoczesne testowanie wielu zasilaczy o pojedynczym/wielu wyjściach, znacznie zwiększając wydajność linii produkcyjnej. (Prędkość testowania zasilaczy LED/adapterów/ładowarek jest ponad dwukrotnie większa niż w powszechnie stosowanych automatycznych systemach zasilania serii 6000.)
• Przeprowadza równoległe skanowanie kodów kreskowych podczas testowania, znacznie poprawiając prędkość testowania.
Pozycje testowe systemu testowania zasilaczy Top-Smart 2000 ATE:
| Pozycje testowe |
Kompleksowe pozycje testowe |
| Test CEC |
Test zwarcia |
| Prąd stały w trybie C.V. |
Prąd zwarciowy |
| Szum Peak-Peak |
Ochrona OV |
| Test czasu reakcji szeregowej |
Ochrona UV |
| Czas odpowiedzi przejściowej |
Ochrona OL |
| Skok przejściowy |
Ochrona OP |
| Śledzenie |
Test regulacji w teście |
| Regulacja napięcia |
Wypadnięcie cyklu AC |
| Regulacja prądu |
Symulacja PLD |
| Czas włączenia |
Test prądu wyjściowego DC |
| Czas narastania |
Test napięcia wyjściowego DC |
| Czas opadania |
Test odczytu przebiegu |
| Czas podtrzymania |
Test prądu udarowego wejściowego |
| Test prądu rozruchowego |
Moc wejściowa |
| Sygnał Power Good |
Sterowanie przekaźnikiem |
| Sygnał Power Fail |
Skanowanie kodów kreskowych |
| Sygnał P/S ON |
Test dynamiczny |
| Sekwencja włączania zasilania |
Specyfikacja w trybie C.P. |
| Sekwencja wyłączania zasilania |
Prąd szczytowy wejściowy |
| Test wydajności |
Dodatkowy test pomiaru rozszerzenia |
| Ogólna stabilność |
Prąd RMS wejściowy |
| Test prędkości wentylatora |
Sterowanie sygnałem TTL |
| Współczynnik mocy wejściowej |
Odczyt/zapis LAN |
| Napięcie wejściowe |
Odczyt/zapis RS485 |
| Częstotliwość wejściowa |
Odczyt/zapis USB |
| Rozszerz test pomiaru |
232 odczyt/zapis |
| Test automatyczny |
GPIB odczyt/zapis |
Twoja wiadomość musi mieć od 20 do 3000 znaków!
